第32回RCJ信頼性シンポジウム参加者募集のお知らせ
2022 第32回RCJ信頼性シンポジウム参加者の募集
RCJ信頼性シンポジウムは、ESD現象とESD対策、及び電子デバイス・電子部品信頼性に特化したシンポジウムです。今年度は、以下の日程で開催します。 開催場所は、従来開催してきた大田区産業プラザの改修が終了しましたので、大田区産業プラザに戻ります。参加者の募集を開始しました。是非ご参加下さるようお願いします。
なお、今年度のシンポジウムは現地開催のみとなります。
日時:2022年10月26日(水)~10月27日(木)
場所:大田区産業プラザ(東京、京急蒲田)
- 第32回 RCJ信頼性シンポジウムプログラム(2022.10.17版)(pdf)
- 第32回 RCJ信頼性シンポジウム参加申込(webから申込)
信頼性セミナープログラムで発表順の変更
今年度シンポジウムのトピックス
1.招待講演
最新のESD関連技術について、その分野の専門家による招待講演
(1)「基本的な半導体製品のESD設計及び組立工程・市場におけるシステムレベルESD事象と
対応策」 石塚 裕康 氏(FDD株式会社(旧Maxwell Japan))
(2)「実環境下で発生する静電気放電の電磁干渉メカニズムについて」
本田 昌實 氏((株)インパルス物理研究所)
(3)「実際のESD現象とシステムレベルESD試験IEC 61000-4-2規格の課題」
石田 武志 氏((株)ノイズ研究所)
(4)「基板モジュールレベルの静電気対策」
福田 保裕 氏(ESDコンサルタント)
その他 昨年度のRCJ EOS/ESD/EMCシンポジウム優秀論文の報告もあります。これは、今年の米国EOS/ESDシンポジウムにRCJ優秀論文として招待され発表する内容の紹介です。
2.信頼性セミナー:「SiCパワー半導体の信頼性」
RCJ故障物理委員会で行っている調査活動成果を中心に報告するものです。今回の信頼性セミナーは、実用化が先行しているSiCパワー半導体に絞り、その信頼性レベル、故障物理、スクリーニングを中心とした信頼性保証方法の課題と解決策を中心に報告します。
その他、「静電気対策」、「イミュニティ」、「コンポネントレベルESD」に関する一般講演もあります。
奮っての参加をお待ちしています。
<参考> 2021年のRCJ信頼性シンポジウムプログラム