信頼性一般
当電子部品の信頼性に関する規格、電子部品・電子機器の信頼性に関する調査試験研究の成果報告書を発行しておりますのでご利用下さい。
１．電子部品の信頼性に関する規格及びガイドライン
| 分類コード番号 | 名称 | 頒布価格（円） （消費税別） |
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|---|---|---|---|
| 会員 | 一般 | ||
| SQA-4-01 | ASIC及びICの製造業者認定と総合的品質管理(TQM)に関するガイドライン | 5,000 | 6,000 |
| SQA-6-01 | 半導体デバイス規格研究委員会成果報告書 CECC 0080X Ⅰ.CECC認証取得企業のためのTQMガイドラインⅡ.IEC／SC47A／373／CDV 製造業者認証と品質マネージメントのための手順 |
2,000 | 3,000 |
| SQA-7-01 | 技術認証スケジュール調査資料 | 2,000 | 3,000 |
| SQA-9-01 | IECQ制度下におけるプロセス（工程）認証 | 4,000 | 8,000 |
| SQA-10-01 | エレクトロニックプロセス認証規格（仮訳） | 4,000 | 8,000 |
| SQA-11-01 | 部品マネジメント計画書のためのガイド(仮訳) ＩＥＣＱ 001007－1－1 （Revision E） |
2,000 | 3,000 |
| SQA-12-01 | デバイス規格研究委員会調査報告書 IEC QC 001007－1－2（Revision G） 第１－２部 航空宇宙産業：製造業者指定温度範囲外で半導体デバイスを使用するためのガイド（仮訳） IEC QC 001007－1－3（Revision G） 第１－３部 航空宇宙産業：電子機器の信頼性審査のためのガイド（仮訳） |
4,000 | 8,000 |
２．電子部品・電子機器の信頼性に関する調査試験研究成果の刊行物
| 分類コード番号 | 名称 | 頒布価格（円） | |
|---|---|---|---|
| 会員 | 一般 | ||
| R-8-EC-01 | 電子部品の故障率の基準条件及び換算のためのストレスモデル | 3,000 | 5,000 |
| R-8-EC-02 | 信頼性ストレススクリーニング | 3,000 | 5,000 |
| R-1-RS-01 | VLSI 1MビットDRAMの信頼性試験に関する調査研究成果報告書 | 3,000 | 4,000 |
| R-2-RS-01 | VLSI 1MビットDRAMの信頼性試験（その２）に関する調査研究成果報告書 | 3,000 | 4,000 |
| R-3-RS-01 | VLSI 4MビットマスクROMの信頼性試験に関する調査研究成果報告書 | 4,000 | 6,000 |
| R-4-RS-01 | VLSI 4MビットマスクROMの信頼性試験に関する調査研究成果報告書（その２） | 4,000 | 6,000 |
| R-5-RS-01 | VLSI １Ｍビットフラッシュメモリの信頼性試験に関する調査研究成果報告書（Ⅰ） | 4,000 | 6,000 |
| R-6-RS-01 | VLSI 1Mビットフラッシュメモリの信頼性試験に関する調査研究成果報告書（Ⅱ） | 4,000 | 6,000 |
前記の〈規格及び刊行物〉以外に在庫がなくなりましたものは、当センターにおいで下されば閲覧することができますのでご利用下さい。
入手方法と頒布価格
当センター発行資料は、一般の書店では取り扱っておりません。
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なお、消費税及び郵送の場合の送料（実費）を別途申し受けます。
〒111－0043 東京都台頭区駒形2-5-6 カミナガビル 3階
一般財団法人 日本電子部品信頼性センター 総務部
（TEL：03-5830-7601 FAX：03-5830-7602）
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