シンポジウム

ESD AND RELIABILITY SYMPOSIUM

2020 第30回 RCJ信頼性シンポジウム参加者募集

RCJ信頼性シンポジウムは、ESD現象とESD対策、及び電子デバイス・電子部品信頼性に特化したシンポジウムです。参加者募集を開始しました。
今年度は、新型コロナの影響もありますが、予定通り以下の日程で開催することにしました。但し、海外からの招待講演は取りやめ、国内のみの講演に集約しました。また、コロナ対策として、会場を一つにし、密を回避します。また、シンポジウム会場での聴講が困難な人向けに、後日ビデオ配信も考えています。奮ってご参加頂きますようお願いします。

  • 日時:2020年11月17日(火)~11月18日(水)
  • 場所:大田区産業プラザ(東京、蒲田)4階 コンベンションホール


<今年のトピックス>
1.招待講演
(1)昨年度のRCJ EOS/ESD/EMCシンポジウム優秀論文
今年の米国EOS/ESDシンポジウムで招待論文として発表した内容の紹介

(2)「自動車用電気/電子システム機能安全規格(ISO 26262)における半導体ESDの取扱」
自動車用E/Eシステムの機能安全規格ISO 26262が注目されています。機能安全指標を示すASIL(自動車用安全度水準)の評価では、システムを構成する電子部品・半導体の故障率を基に評価します。この部品レベルでの故障率算出の際のESDの取り扱い、また、システムレベルでのESDの取り扱いについて解説します。

(3)「基板モジュールレベルの静電気対策”委員会の2019年度活動結果と2020年度の活動方針」
2017年度に発足した、RCJ“基板モジュールレベルの静電気対策”委員会の報告。電源OFF状態、及びON状態の基板モジュールレベルの静電気現象分析など公開文献を前提にした研究調査を行い、その活動内容を報告します。

2.信頼性セミナー:「パワー半導体と最新LSIの信頼性」
RCJ故障物理委員会で行っている調査活動成果を中心に報告するものです。最近話題のパワー半導体、FinFET信頼性、ばらつきと信頼性の問題、初期故障に着目したフィールドでの初期故障低減方法について報告します。

その他、「デバイス&試験」、「静電気対策」、「イミュニティ」に関する一般講演も多数あります。


<コロナ対策の概要>
1.シンポジウム会場は、一つの会場(定員400名)とし、100名以下の聴講者に制限します。
2.マスク、消毒用アルコール、使い捨ておしぼりをご用意いたします。
3.会場は出入口扉を解放し常時換気を行います。
4.テーブル等什器はアルコールによる殺菌をいたします。
5.シンポジウム会場、ロビー等ではマスクの着用をお願いします。
6.発熱など体調のすぐれない方は聴講をお断りすることがありますのであしからずご了承ください(検温計をご用意いたします)。

同時開催: 「信頼性・ESD対策技術展会」も同会場 2階小展示場で開催します。

RCJ信頼性シンポジウム予稿集

これまでの予稿集一覧がご覧頂けます。

参考

第29回 2019 RCJ信頼性シンポジウム

第28回 2018 RCJ信頼性シンポジウム

第27回 2017 RCJ信頼性シンポジウム

第26回 2016 RCJ信頼性シンポジウム

第25回 2015 RCJ信頼性シンポジウム

第24回 2014 RCJ信頼性シンポジウム

第23回 2013 RCJ信頼性シンポジウム

第22回 2012 RCJ信頼性シンポジウム

第21回 2011 RCJ信頼性シンポジウム

第20回 2010 RCJ信頼性シンポジウムのご案内

第19回 2009 RCJ信頼性シンポジウムのご案内

参考 前回のプログラム