ASILの評価方法では、電子機器の構成電子部品の故障率を基に算出することになります。自社の信頼性データやフィールドデータを基に算出するのが望ましいが、手元にデータが無い場合に、公表されている故障率データを基に算出することになります。IECで公表している故障率モデルとして、IEC 62380/TR（Reliability Hand Book – A universal model for reliability prediction of Electronics components, PCBs and equipment）があり、規格では、このTRの使用が推薦されています。このTRは仏で作成されたので、特に欧州に輸出する場合、このTRを用いた故障率予測が要求されると言われています。なお、IEC/TRモデル以外にも、MIL-HDBK-217及びその後継規格の217plus、欧州の軍・航空機産業が開発したFIDES等があります。本報告書では、IEC/TR 62380（2004）、FIDES（2009）、217Plus（2006、2015）を用いた電子部品の故障率算出例（詳細な算出途中段階を含めた解説を含む）と結果の比較を行っています。この分野で業務を行っている技術者には、参考になる資料と思います。

その他の機構安全に関わる資料は、こちらのセクションを参照して下さい。

平成27年度電子部品信頼性研究委員会成果報告 －機能安全規格の動向及び電子部品故障率モデルのIEC/TR 62380、FIDES及び217Plusを用いた故障率算出例と比較
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