2025 第35回RCJ信頼性シンポジウムプログラム

RCJ信頼性シンポジウムは、ESD現象とESD対策、及び電子デバイス・電子部品信頼性に特化したシンポジウムです。2025年は、以下の日程で開催します。 RCJ信頼性シンポジウムは、EOS/ESD/EMCシンポジウムと電子デバイス・電子部品の信頼性シンポジウムからなっています。参加申込を開始しました。奮ってのご参加をお待ちしています。 なお、2025年のシンポジウムは、現地開催のみです。

開催日時：2025年10月21日（火）～10月22日（水）

場所：大田区産業プラザ（東京、京急蒲田）

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今年のトピックス

1．海外招待講演

今回は、2名の海外招待講演者を招くことができました。

（1）Pasi Tamminen（Danfoss Drives, Finland）（2023 USA EOS/ESD SymposiumのBest Paper）

「ダイ間ESD放電電流解析」

　1つの基板に複数のシリコンダイを組み込んだチップレットが開発されている。ダイ間を接続する組立工程においては、ダイのESD保護が課題となる。本報告では、そのESD問題の解明を目的として、計算手法を用いたダイ間放電電流波形の解析結果について述べる。

（2）Wei-Min Wu（IMEC）

「5G/6G 以降の無線システムに向けた GaN 技術における ESD」

本講演では、5G/6G 基地局向けに高耐圧・高出力密度・高周波性能を実現する GaN-on-Si ショットキー型 HEMT および MIS-HEMT デバイスにおける静電気放電（ESD）信頼性に焦点を当てる。さらに、デバイスレベルでの理解に基づき、評価で明らかとなった故障モードを踏まえて、回路レベルでの GaN ESD 保護戦略について議論する。

2．国内招待講演

　（1）山口　晋一（シシド静電気（株））

2024 RCJ EOS/ESD/EMCシンポジウム優秀論文

「交流コロナ放電方式バー型イオナイザの誘導電圧抑制と除電能力向上の検討」

この優秀論文は、今年の米国EOS/ESDシンポジウムにRCJ優秀論文として招待されました。その発表した内容の紹介です。

3．「基板・モジュールの静電気対策」セミナー

RCJが運営している基板・モジュール静電気対策検討委員会メンバーによるセミナーです。コンポーネントレベルとは異なる基板・モジュールレベルのESD対策に焦点をあてたセミナーです。

4．信頼性セミナー：「パワー半導体技術と信頼性、圧電デバイスの基礎と信頼性、及びリチウムイオン2次電池の品質・信頼性」

本セミナーは、RCJが運営するRCJ故障物理委員会における調査活動の成果を中心に報告するものです。従来取り上げてきたパワー半導体技術と信頼性に加え、今回は新たに圧電デバイスの基礎と信頼性、さらにリチウムイオン二次電池の品質・信頼性についても報告します。

その他、「静電気対策」、「デバイス、測定、ESD検証」、「システムとイミュニティ」、「故障解析」に関する一般講演もあります。

 

過去のシンポジウムのバックナンバーはこちらからご覧ください。