2024 第34回RCJ信頼性シンポジウム参加者募集を開始しました
2024 第34回RCJ信頼性シンポジウム参加者募集
RCJ信頼性シンポジウムは、ESD現象とESD対策、及び電子デバイス・電子部品信頼性に特化したシンポジウムです。2024年は、以下の日程で開催します。
参加者募集を開始しました。奮ってのご発表をお願いします。
なお、2024年のシンポジウムは、現地開催のみです。
開催日時：2024年11月7日（木）～11月8日（金）
場所：大田区産業プラザ（東京、京急蒲田）
今年のトピックス
1．海外招待講演
今回は、3名の海外招待講演者を招くことができました。
（1）Harald Gossner (Intel Deutschland) （2022 USA EOS/ESD SymposiumのBest Paper）
「高速インターフェース設計のための高度なCDMシミュレーション手法」、
さらに、「コネクタポートピンのシステムレベルストレス – 産業界における調整」の講演もあります。
（2）Sergej Bub（Nexperia Germany）（2021 USA EOS/ESD SymposiumのBest Paper）
「車載用高速インターフェース： システムレベルのHV-ESD保護設計と課題」
（3）Wen-Chieh Chen（IMEC）
「先進的なDTCO（設計と技術の協調による最適化のための調整）/STCO（システムと技術の協調による最適化）スケーリングオプションにおけるESDダイオードの課題と可能性」
2．国内招待講演
最新のESD関連技術について、その分野の専門家による招待講演
（1）若井 伸之（東芝デバイス&ストレージ（株））
産業界/自動車業界用のCDM試験方法の見直しと改良提案
（2）澤田 真典（阪和電子工業（株））
2023 RCJ EOS/ESD/EMCシンポジウム優秀論文
「自動CBE試験装置による放電波形解析」
この優秀論文は、今年の米国EOS/ESDシンポジウムにRCJ優秀論文として招待されました。その発表した内容の紹介です。
3．「基板・モジュールの静電気対策」セミナー
RCJが運営している基板・モジュール静電気対策検討委員会メンバーによるセミナーです。コンポーネントレベルとは異なる基板・モジュールレベルのESD対策に焦点をあてたセミナーです。
4．信頼性セミナー：「SiCパワー半導体の信頼性及び最先端LSIの信頼性」
RCJが運営しているRCJ故障物理委員会で行っている調査活動成果を中心に報告するものです。今回の信頼性セミナーは、実用化が先行しているSiCパワー半導体と最先端LSI（主にMOS FET構造と配線）信頼性の故障物理、信頼性課題と解決策を中心に報告します。
その他、従来からのテーマである「ESD対策、システム・デバイス試験、イミュニティ」、「故障解析、装置信頼性向上対策、SiCパワーMOSFETのAC-BTI」に関する一般講演もあります。