2026 第36回RCJ信頼性シンポジウム参加申込を開始しました

RCJ信頼性シンポジウムは、1991年から開催し、電子デバイス・電子部品の信頼性技術、静電気放電（ESD）現象と対策技術に特化したシンポジウムです。微細化・高機能化が急進展する一方、厳しいESD・信頼性対策が要求されている微細化半導体デバイス、最新ナノテクノロジーデバイス、デバイス実装技術及びシステム構成技術に焦点を当てています。

2026年は、以下の日程と会場で開催します。現在、参加申込を受け付けています。皆様の奮ってのご参加をお待ちしております。

・期日：　2026年12月１日（火）～12月2日（水）

・会場：　（一財）日本教育会館　8階（東京都千代田区一ツ橋2‐6‐2）

・2026 第36回RCJ信頼性シンポジウム（20260929）

・参加申込

＜今年のトピックス＞

1．海外招待講演

今回は、3名の海外招待講演者を招くことができました。

（1）Ellen Merkel（Infineon）

（2024 USA EOS/ESD SymposiumのBest Paper）

「ピック＆プレース装置内におけるESD電流のその場計測」

本研究は、組立装置内で発生する放電電流を直接測定する方法を提案しています。マルチパーパス電流モニタを用いた予備試験を実施し、本手法の基本原理を示し、さらに、製造装置に直接組み込むことが可能な新しい電流センサを紹介します。

（2）Kateryna Serbulova（IMEC）

「設計・技術およびシステム・技術の協調最適化によるスケーリング時代におけるラッチアップの探究」

先端技術の一つとして、信号配線と電源配線を分離でき、寄生成分を低減することが可能な裏面電源供給ネットワークの開発が進められています。この技術におけるラッチアップについて、詳細な測定結果およびシミュレーション結果を示します。

（3）Marko Simicic（IMEC）

「先端半導体技術におけるESD保護技術の将来展望」

新たに登場する半導体技術は、静電気放電（ESD）保護の実現方法を大きく変えつつあります。本講演では、主要な技術トレンドと、それらがESD保護に及ぼす影響について説明します。

2．国内招待講演

（1）川又　憲　（東北学院大学　工学部・電気電子工学科）

「ESDによる電磁妨害波の過渡特性とその特異性」

ESDにより発生するインパルス性の電磁波は，電気・電子機器の誤動作や故障，さらに情報信号の誤処理を引き起こす電磁妨害波源となります。本講演ではEMC研究の立場から，ESDによる電磁妨害波の過渡特性の把握とその特異性について解説します。

（2）石田武志（（株）ノイズ研究所）

「電子機器のESD障害メカニズムと医療機器の影響」

帯電人体から発生するESDは電子機器および電子部品に誤作動、破壊などの重大な障害を引き起こします。この対策、評価を目的としたESD耐性評価の国際規格の解説とこの規格で対応できないウェアアラブル機器や一般の電子機器とは異なる医療機器についてのESD試験や現象について解説します。

（3）山崎　博孝（(株) ソシオネクスト）

2025 RCJ EOS/ESD/EMCシンポジウム優秀論文

「2.5D/3D IC設計のESD検証課題に対する新しい方法論」

この優秀論文は、今年の米国EOS/ESDシンポジウムにRCJ優秀論文として招待されました。その発表した内容の紹介です。

3．「基板・モジュールの静電気対策」セミナー

RCJが運営している基板・モジュール静電気対策検討委員会メンバーによるセミナーです。最近注目されているチップレット化するデバイス、製造工程における基板・モジュール静電気対策に焦点をあてたセミナーです。

4．信頼性セミナー：「パワー半導体技術と信頼性、ゲート酸化膜のTDDBの寿命予測モデルの考察、Li電池を使用した機器の安全設計、及び次世代エナジーデバイスの役割と信頼性」

本セミナーは、RCJが運営するRCJ故障物理委員会における調査活動の成果を中心に報告するものです。従来取り上げてきたパワー半導体技術と信頼性に加え、今回はLi電池を使用した機器の安全設計、及び次世代エナジーデバイスと幅広い分野について報告します。

その他、「静電気対策」、「デバイス、測定、イミュニティ」、「故障解析、デバイスの信頼性」に関する一般講演もあります。