2019 第29回RCJ信頼性シンポジウム参加者募集

2019 第29回 RCJ信頼性シンポジウム参加者募集

RCJ信頼性シンポジウムは、ESD現象とESD対策、及び電子デバイス・電子部品信頼性に特化したシンポジウムです。2019年は以下の日程で開催します。参加者募集を開始しました。奮ってご参加下さるようお願いします。

  • 日時:2019年11月27日(水)~11月28日(木)
  • 場所:大田区産業プラザ(東京、蒲田)4階 コンベンションホール
    • 本年のトピックス
      1.著名な海外招待者による特別講演
      (1)Charvaka Duvvury氏の講演(2件の講演)
      (i) EOSの設計による対策
      Industry councilのwhite paper 4(EOS故障の理解と対策について)の紹介、事例紹介及び設計による対策についての講演

      (ii) 「Industry Council update」
      最新のIndustry Council活動の紹介。次のターゲットは、過渡AMR(絶対最大定格)、現実的なシステムレベルのESD試験方法、及び5~7 nm技術で製造された高速LSIのCDM耐性目標値の見直し。

      (2)Michael Khazhinsky氏(Silicon Labs)
      「ESDとラッチアップに対する自動設計による解決策」と題し、現状のESDとラッチアップのEDA(自動設計)ツールの紹介、及び将来のEDAと標準化の方向性についての講演。

      (3)Eugene R. Worleys氏(Silicon Crossing, LLC)
      「ESDシミュレーションとモデリング」と題し、高速高性能回路用のESDシミュレーションとモデリング、及び試験用モデルについての講演

      2.信頼性セミナー:「パワー半導体と最新LSIの信頼性」
      RCJ故障物理委員会で行っている調査活動成果を中心に報告するものです。最近話題のパワー半導体、FiNFETやニューロモーフィックデバイス等の新しいLSIの信頼性について報告します。

      3. ESD管理実践技術セミナー -ESD対策の基礎と測定技術の実演ー 
      システムの電子化の進展により、歩留まりと信頼性向上のため、モジュール品や電子装置の組立ラインのESD管理が益々重要となっています。このような背景から、ESD管理の基礎と実践に焦点を当てたセミナーを計画しました。本セミナーでは、その基礎となる、作業現場での各種測定方法を、実技を交えて解説します。

      4.13件の一般講演

      「デバイス&試験」、「静電気対策」、「イミュニティ」に関する一般講演が多数あります。

      5.情報交換会
      11月27日の講演終了後に、シンポジウム参加者の情報交換を目的に、軽食・ドリンク付きの情報交換会も開催します。

      本シンポジウムは、幅広く「信頼性・ESD現象と対策」について討議できる場を提供していますので、奮ってのご参加をお願いします。

    過去のRCJシンポジウムプログラムや発表論文集(プロシーディング)の入手に関する情報はこちらから

    信頼性・ESD対策技術展示会も同時期に、同場所の2階小展示場で開催します。展示社主催の技術ワークショップもあります。参加費は無料ですので、是非展示会にもお立ち寄り下さい。詳細は、こちらから