電子部品信頼性(機能安全)委員会成果報告

機能安全規格の解説とSIL(ASIL)評価のための電子部品故障率予測ガイドライン

近年のシステムの高機能化は著しく、これはシステムに組み込まれる電子制御系の高機能化に負うところが大きい。このような高機能化・複雑化したシステムの安全性確保のため、システムの中枢部の電子制御系機器に機能安全規格の適用が注目されています。

本報告書では、機能安全規格の基本規格のIEC 61509と自動車電子制御分野の機能安全規格のISO 26262の概要と適用方法について解説しました。

また、IEC61509でSILとISO26262でASILが規定されており、この値の算出が要求されています。なお、SIL(ASIL)は危険側故障率で、単なる故障率ではなく、故障した場合に危険になる確率です。このSIL(ASIL)を求める際に、電子制御系を構成している電子部品の故障率を利用することになります。

電子部品の故障率は、自社の信頼性データやフィールドデータを基に算出するのが望ましいのですが、手元にデータが無い場合に、公表されている故障率データを基に算出することになります。

本資料では、現在公表されている故障率モデル(使用環境によって故障率が異なるので、各種環境条件をパラメータにして算出するモデル)で、欧州を中心に使用されているIEC/TR 62380(信頼性データハンドブック)と米国を中心に使われている217plus(MIL-HDBKー 217(F版(1995))の後継版(PRISMの名称変更))を取り上げ、全訳し、解説しました。また、故障率モデルに基づかない、製造工程データ(バーンインデータ等)に基づく故障率予測方法にていても解説しました。

常日頃、機能安全の分野で活躍している皆様の参考資料として大いに役立つことが期待されます。その目次を以下に示します。

なお、本資料はCD版のみの販売になります。

平成25年度電子部品信頼性研究委員会成果報告
-機能安全規格の解説とSIL(ASIL)評価のための電子部品故障率予測ガイドライン-

資料注文書(wordファイル)

平成26年度電子部品信頼性研究委員会成果報告
ーハードウエアのSIL(ASIL)評価例及びFIDES(電子部品故障率モデル)の解説と算出例-

平成26年度報告書では、マイクロプロセッサを例にSIL(ASIL)の評価例と、平成25年度に扱っていなかった電子部品モデルのFIDESモデル(仏の航空防衛業界が作成したモデル)を解説し、代表的な電子部品の故障率を算出例を示しています。

資料注文書(wordファイル)

平成27年度電子部品信頼性研究委員会成果報告 -機能安全規格の動向及び電子部品故障率モデルのIEC/TR 61380、FIDES及び217Plusを用いた故障率算出例と比較

RCJでは、以前にPRISMとMIL-HDBK-217Fを翻訳解説した資料も発行しており、販売しています。

電子機器の信頼度予測方法の解説とMIL-HDBK-217Fの全訳資料(PRISM及びMIL-HDBK-217F)

電子機器の新しい信頼度予測方法-PRISM-の目次
付録 MIL-HDBK-217F Notice2の全訳)

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