RCJ信頼性シンポジウムのご案内

2018 第28回 RCJ信頼性シンポジウム参加のお勧め

RCJ信頼性シンポジウムは、ESD現象とESD対策、及び電子デバイス・電子部品信頼性に特化したシンポジウムです。2018年は以下の日程で開催します。参加者を募集しています。奮ってご参加頂きますようお願いします。

  • 日時:平成30年11月27日(火)~11月28日(水)
  • 場所:大田区産業プラザ(東京、蒲田)4階 コンベンションホール
  • 今年のトピックス

    1.Dr. Shih-Hung Chen(IMEC)の招待講演
     次世代技術半導体技術のFiN FETやNW(ナノワイヤ)用のESD保護素子についての講演

    2. 「JEITA ESD セミナー: CDM sensitive device の工程管理」
     JEITA EDR-4709(システムレベルESDに対応した半導体のESD試験方法検討とシステムへの半導体部品実装方法,取り扱いガイドライン)改訂版の紹介

    3. 「基板・モジュールレベルのESDモデルと静電気対策」
     部品とシステムの中間に位置する「基板、モジュールレベル」に対してのESDモデル化、静電気対策を整理し報告します。

    4.  信頼性セミナー:「LSI信頼性保証方法と最新LSIの信頼性」
     RCJ故障物理委員会で行っている調査活動成果を中心に報告するものです。最近話題の新しい半導体部品の信頼性保証方法と、従来より調査活動を進めている最新LSIの信頼性課題について報告します。

    その他、「デバイス&試験」、「静電気対策」、「イミュニティ」に関する一般講演も多数あります。本シンポジウムは、幅広く「信頼性・ESD現象と対策」について討議できる場を提供していますので、奮ってのご参加をお願いします。