RCJ信頼性シンポジウム参加申込受付を開始しました

2017 第27回 RCJ信頼性シンポジウム参加者募集

RCJ信頼性シンポジウムは、ESD現象とESD対策、及び電子デバイス・電子部品信頼性に特化したシンポジウムです。今年は以下の日程で開催します。ご参加頂きますようお願いします。

  • 日時:平成29年11月28日(火)~11月29日(水)
  • 場所:大田区産業プラザ(東京、蒲田)4階 コンベンションホール


今年のトピックス

1.Juin J. Liou教授(Zhengzhou University、China)の招待講演

 車載やLCDパネルで要求される高電圧動作(30-60 V)LSI用の高耐圧BiCMOS/CMOS技術のESD保護方法についての講演

2.Ming-Dou Ker教授(National Chiao-Tung University、Taiwan)の招待講演

 微細CMOSマルチ電源SoCのオン-チップESD保護方法についての講演

3.「JEITA ESD セミナー: Real world and test effects」

 システムレベルESD波形解析とデバイスへの影響、システムESD設計向上策等、工程ESD管理等のシステムレベルESDについての最新動向を報告する。

4.「基板・モジュールレベルの静電気対策検討」

 アセンブリ品やモジュールのESD対策は、それぞれに対応した固有の対策が必要で、共通の対策手法が無い状況で、ESD耐性評価方法も未確立です。そのため、基板・モジュール静電気対策と評価方法に焦点を当てた「基板・モジュール静電気対策検討委員会」をRCJ内に設立しました。その中間報告です。

5. IEC/TC101(静電気)セミナー

 RCJは、IEC/TC101(静電気関連の国際標準作成を行っている専門委員会)の国内審議団体です。TC101の活動状況、新たに提案されているIEC 61340-6-1(ヘルスケア設備における静電気対策)及びIEC 61340-5-4(EPA資材等の測定方法)を中心に説明します。

6. 信頼性セミナー:「パワー半導体の信頼性と新たなLSI信頼性保証方法」

 RCJ故障物理委員会で行っている調査活動成果を中心に報告するものです。招待講演として、JEITAで検討している新しい信頼性保証方法についてご講演頂きます。さらに、従来より調査活動を進めている“パワー半導体とLSI信頼性問題”について報告します。

同時開催: 「信頼性・ESD対策技術展会」も同会場 2階小展示場で開催します。

RCJ信頼性シンポジウム予稿集

これまでの予稿集一覧がご覧頂けます。