RCJ情報検索システムは、RCJが、保有する４０年以上の知的財産資 料の検索システムです。
半導体の黎明期である1970年代から現在に至るまで、電子デバイスの ESD関連及び信頼性に関する様々なRCJの所有する知的財産資料か ら、必要な文献、情報を容易に検索し、入手が可能となる有料会員制サービスを2017年春に開始しました。会員以外の方も、検索可能です。但し、文書のダウンロードは出来ません。ダウンロード希望の場合は、有料となります。

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